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ICP-2060T介紹（化學(xué)法）

ICP-2060T電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀，具有優(yōu)異的分辨率、測試準確度與精密度，廣泛應(yīng)用于鐵合金、稀土工業(yè)、礦石分析、金屬冶煉、地質(zhì)研究、環(huán)境檢測等行業(yè)，可測試元素達70余種，在各個行業(yè)中都有著許多成功的應(yīng)用案例。

ICP2060T電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀

應(yīng)用領(lǐng)域：工業(yè)硅，硅煤，硅石，石英石，石油焦，硅鐵，硅錳等產(chǎn)品中微量元素含量的測定。

測試元素種類：鐵，鋁，鈣，磷，硼，鈦，鎂，鉻，錳，釩，鎳，銅，鉀，鈉，鈷，鉛，鋅等微量元素。

參照國家標準：GBT 14849.4-2014工業(yè)硅化學(xué)分析方法第4部分:雜質(zhì)元素含量的測定電感耦合等離子體發(fā)射光譜法。

 
硅石中微量元素分析儀

WDX-200介紹（固體粉末壓片法）

WDX200波長色散X熒光光譜儀用于工業(yè)硅中雜質(zhì)元素的檢測，從制樣到出結(jié)果只需幾分鐘（粉碎、壓片、測試），操作簡單，對使用人員要求不高，檢測速度遠遠優(yōu)于化學(xué)分析方法，無需任何化學(xué)試劑。    

WDX200波長色散X熒光光譜儀

方法提要：測試速度快，不需要化學(xué)試劑。

樣品上振磨機振磨至試樣能通過0.074mm標準篩（200目），用墊襯劑墊底包邊或置于壓環(huán)內(nèi)放入壓片機，壓力在40t，保壓時間30s。卸壓后取出樣片，吹去表面雜質(zhì)（樣片厚度應(yīng)不小于4mm）后放入儀器進行測定。

儀器和材料

1.波長色散型 X 射線熒光光譜儀

2.振磨機(含碳化鎢磨盤)。

3.壓片機(含壓環(huán)).可提供40 t 壓力

4.電子天平:感量為 0.1 g

5.粘結(jié)劑:硼酸或淀粉(分析純)

6.墊襯劑:硼酸(工業(yè)純)

7.三乙醇胺(分析純)

測試元素種類：鐵，鋁，鈣，鈦，鎂，鉻，錳，釩，鎳，銅等微量元素。

參照國家標準：GBT 14849.4-2014工業(yè)硅化學(xué)分析方法第 5 部分:雜質(zhì)元素含量的測定X 射線熒光光譜法。

CS-188高頻紅外碳硫分析儀介紹

根據(jù)國標GB/T 14849.6-2014本部分規(guī)定了工業(yè)硅中碳含量的測定方法，測定范圍：0.010%-0.50%。

方法提要

     試樣于高頻感應(yīng)爐的氧氣流中高溫燃燒，其中的碳雜質(zhì)轉(zhuǎn)化發(fā)二氧化碳氣體，由氧氣載至紅外檢測器的測量室 ,檢測吸收特定波長的紅外光強度，其吸收強度與二氧化碳濃度成正比，根據(jù)檢測器接受光強度的變化測得碳含量。

試劑和材料

1.氧氣,純度 99.995%。 

2.助熔劑(質(zhì)量比，鎢:錫:鐵=1.5:0.15:0.3),含碳量小于0.001%，粒度0.5mm~1.0mm。 

3.標準樣品:有證系列國家標準樣品(碳含量為0.010%~0.50%)。

4.坩堝:超低碳硫分析專用,預(yù)先于1100℃的高溫馬弗地中灼燒4H,冷卻后放置于干燥器中備用。

5.坩堝鉗。

儀器

1 高頻紅外碳硫分析儀。

2 分析天平，精度為0.0001g。

3 馬弗爐,額定溫度不小于1200℃。

測試

準備好儀器、試劑和材料后，按照國標GB/T 14849.6-2014中推薦的測試方案及步驟，就可以很好的測定出工業(yè)硅中碳的含量。