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| 碳化硅化學成分檢測儀的詳細資料 | ||||||||||||||
| 碳化硅化學成分檢測儀 儀器簡介 WDX-400型多道X射線熒光光譜儀可配置10個固定分光道，同時分析10種元素。根據(jù)用戶的應(yīng)用要求可配置為從Na到U 任意十種元素。標準配置為Na、Mg、Al、Si、S、Cl、K、Ca、Fe、P或Ti（可選）十種元素，是大中型企業(yè)質(zhì)量控制的理想選擇。 
碳化硅化學成分檢測儀
性能特點 粉體樣品或塊樣品快速，非破損分析。 可快速分析粉末壓片，玻璃熔片和塊狀物料。 采用多路數(shù)字MCA實時檢測，大大提高元素檢測效率譜峰，不僅便于儀器調(diào)試和故障診斷， 并可進一步提高儀器的分析精度和穩(wěn)定性。 配置充氦裝置后可以分析液體樣品或易揮發(fā)性固體樣品。 與順序型大功率儀器相比較有如下優(yōu)點： a、在較小功率和測定時間基本相當?shù)那闆r下即可達到足夠的分析精度。 b、延長X光管使用壽命。 c、減少高壓電源故障。 d、降低整機維修成本。 e、采用固定通道，無測角儀磨損問題。 碳化硅化學成分檢測儀 |
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