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儀器特點(diǎn)

1、鍍層分析快速、無損，對(duì)樣品無需任何處理。一般測(cè)試一個(gè)點(diǎn)只需要數(shù)10秒~3分鐘，分析高。

    天瑞儀器xray鍍層測(cè)厚儀是光物理測(cè)量，其對(duì)測(cè)試樣品不會(huì)產(chǎn)生任何的物理、化學(xué)變化，因此，其屬于無損測(cè)量。同時(shí)對(duì)測(cè)試的樣品不需要任何處理，分析速度更加快捷。

2、可測(cè)試超薄鍍層，如：在測(cè)試鍍金產(chǎn)品時(shí)，可測(cè)試0.01米的鍍層厚度，這是其他測(cè)厚設(shè)備無法達(dá)到的。

     X熒光通過射線的方式來檢測(cè)鍍層的厚度，因此，其對(duì)樣品的表面物質(zhì)測(cè)試最為靈敏，因此，其非常適合測(cè)試超薄鍍層，也是目前超薄鍍層常用的測(cè)量方法。

3、可測(cè)試多鍍層，分析遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其他測(cè)量方法。

X射線具有一定的穿透能力，因此，在測(cè)試鍍層時(shí)，它可以穿透多層鍍層，通過每層鍍層產(chǎn)生的特征X射線計(jì)算其厚度，并可分析其鍍層的組成。

4、天瑞儀器xray鍍層測(cè)厚儀可分析合金鍍層厚度和成分比,這是其他測(cè)厚設(shè)備不能做到的。   

5、對(duì)于樣品可進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量，適合分析鍍層的厚度分布情況并可以對(duì)樣品的復(fù)雜面進(jìn)行測(cè)量。

    由于X熒光的無損分析方法，同時(shí)儀器高度的自動(dòng)化控制技術(shù)，保證測(cè)試中可以進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量，不但提高測(cè)試效率，同時(shí)可以分析測(cè)試樣的厚度分布情況。

6、對(duì)分析的多鍍層每層之間的材料，要求有明顯的區(qū)別，即，每層樣品元素有明顯的差別。

     由于X熒光是通過特征X射線，對(duì)被測(cè)樣品進(jìn)行厚度分析的，因此每層鍍層的材料應(yīng)有明顯的區(qū)別。

7、不可以測(cè)試超厚樣品，普通金屬鍍層總厚度一般不超過30微米。根據(jù)各種元素的能量不同，測(cè)量范圍都不相同,如：

  原子序25~40，約0.01~30um原子序41~51，約0.02~70um,但是陶瓷上的涂層因?yàn)槊芏认鄬?duì)普通金屬電鍍工藝,密度會(huì)小,所以可以測(cè)試更厚,比如未燒結(jié)的MoMn涂層可以測(cè)試150微米以上.   

8、天瑞儀器xray鍍層測(cè)厚儀可以對(duì)極小樣品進(jìn)行測(cè)試，例如：螺絲、電路板焊盤、接插件的插針等。可以將X射線照射在樣品的光斑調(diào)到很小的地步（可以達(dá)到微米級(jí)，因此，超小樣品的測(cè)試非常容易。

9、屬于對(duì)比分析儀器，測(cè)試不同的鍍層樣品需要不同的鍍層標(biāo)樣，雖然有FP法的測(cè)試軟件，但在精準(zhǔn)測(cè)試中，一定需要標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行校對(duì)，因此，企業(yè)應(yīng)用中采用標(biāo)樣校對(duì)的方法是最常見的。

10、針對(duì)不同的鍍層測(cè)試對(duì)象，可選擇不同結(jié)構(gòu)的X熒光分析儀器。例如：上照射和下照射的設(shè)備；探測(cè)器分為正比計(jì)數(shù)器和半導(dǎo)體探測(cè)器的等，他們都有各自的優(yōu)缺點(diǎn)。

常州鍍鋅測(cè)厚儀