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X熒光鍍層測厚儀系列

1.1 分析元素范圍：K-U

1.2 同時(shí)可分析多達(dá)5層鍍層

1.3 分析厚度檢出限zui高達(dá)0.005μm

1.4 定位精度：0.1mm

1.5 測量時(shí)間：5s-300s

1.6 計(jì)數(shù)率：0-8000cps

1.7 Z軸升降范圍：0-140mm

1.8 X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D)

工作環(huán)境要求：

2.1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃

2.2 環(huán)境相對濕度：<70%

2.3 工作電源：交流220±5V

2.4 周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。

X熒光鍍層測厚儀

能量色散X熒光光譜儀EDX 1800B


技術(shù)參數(shù)

1.1 分析元素范圍：S-U

1.2測量精度：0.05%（含量大于96%的樣品）

1.3元素測量范圍：PPM級-99.99%

1.4 高壓：5kV-50kV

1.5 管流：50μA-1000μA

1.6 能量分辨率：165±5eV

1.7 RoHS指令有害元素檢測限Cd/Pb/Cr/Hg/Brzui低達(dá)2ppm（因基體不同檢出限可能存在一定差異）。

1.8 測量時(shí)間：60s-300s

1.9 計(jì)數(shù)率：1300-8000cps

工作環(huán)境要求：

2.1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃

2.2 環(huán)境相對濕度：<70%

2.3 工作電源：交流220±5V

2.4 周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。

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